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HAST 試驗(yàn)箱 壓力老化箱 HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能

HAST高溫高濕高壓老化箱 HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能，廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。

HAST壽命試驗(yàn)箱 高加速溫度和濕度壓力 HAST 壽命試驗(yàn)箱，又稱(chēng)高壓加速老化試驗(yàn)箱，主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性。在設(shè)定的溫度、相對(duì)濕度和壓力條件下，將待測(cè)樣品暴露于非冷凝的高溫高濕環(huán)境中，以加速其老化過(guò)程。通過(guò)準(zhǔn)確控制試驗(yàn)箱內(nèi)的環(huán)境參數(shù)，可以在短時(shí)間內(nèi)模擬出產(chǎn)品可能經(jīng)歷的數(shù)十年甚至更長(zhǎng)時(shí)間的自然老化過(guò)程。

PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱 高溫濕度試驗(yàn) 高溫高壓加速老化測(cè)試箱結(jié)構(gòu)形式為立式,試驗(yàn)箱內(nèi)箱采用 SUS304 發(fā)紋不銹鋼板,外箱采用拉絲不銹鋼 板美觀大方，溫度控制器為日本富士數(shù)顯控制器,PT100 感應(yīng)器,指針式壓力表,內(nèi)置式儲(chǔ)水箱.該設(shè)備具有超溫、欠相、 缺水、壓力、加熱管空燒等保護(hù)裝置。

PCT 高壓加速老化試驗(yàn)箱 氣壓濕度款 具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。